泰克S500集成式測試系統S500 集成式測試系統 是高度可配置的、基于儀器的系統,適用于器件、晶片或暗盒級半導體檢定。S500 集成式測試系統基于我們經過驗證的儀器,提供創(chuàng)新的測量功能和系統靈活性,...
查看詳情產品中心
Product Centerproduct
產品分類0755-23217274
泰克S500集成式測試系統S500 集成式測試系統 是高度可配置的、基于儀器的系統,適用于器件、晶片或暗盒級半導體檢定。S500 集成式測試系統基于我們經過驗證的儀器,提供創(chuàng)新的測量功能和系統靈活性,...
查看詳情泰克2600-PCT-4B參數曲線跟蹤儀開發(fā)和使用 MOSFET、IGBT、二極管和其他大功率器件,需要全面的器件級檢定,如擊穿電壓、通態(tài)電流和電容測量。 Keithley 高功率參數化波形記錄器系列...
查看詳情泰克2600-PCT-3B參數曲線跟蹤儀開發(fā)和使用 MOSFET、IGBT、二極管和其他大功率器件,需要全面的器件級檢定,如擊穿電壓、通態(tài)電流和電容測量。 Keithley 高功率參數化波形記錄器系列...
查看詳情泰克2600-PCT-2B參數曲線跟蹤儀開發(fā)和使用 MOSFET、IGBT、二極管和其他大功率器件,需要全面的器件級檢定,如擊穿電壓、通態(tài)電流和電容測量。 Keithley 高功率參數化波形記錄器系列...
查看詳情泰克2600-PCT-1B參數曲線跟蹤儀開發(fā)和使用 MOSFET、IGBT、二極管和其他大功率器件,需要全面的器件級檢定,如擊穿電壓、通態(tài)電流和電容測量。 Keithley 高功率參數化波形記錄器系列...
查看詳情泰克DAQ6510/7700采集/記錄萬用表DAQ6510 6½ 位數據采集和記錄萬用表系統DAQ6510 具有觸摸屏用戶界面,可在儀器上更快完成設置、實時監(jiān)控測試狀態(tài)以及分...
查看詳情泰克DAQ6510采集/記錄萬用表DAQ6510 6½ 位數據采集和記錄萬用表系統DAQ6510 具有觸摸屏用戶界面,可在儀器上更快完成設置、實時監(jiān)控測試狀態(tài)以及分析詳細數據,從而實現*的簡...
查看詳情泰克2182A/J型納伏表雙通道 2182A 型納伏表較適合進行穩(wěn)定的低噪聲電壓測量,以及適合可靠且重復地檢定低阻材料和器件。 相比其他低電壓測量解決方案,其測量速度更快,噪聲性能顯著提高。 它提供簡...
查看詳情泰克2182A型納伏表雙通道 2182A 型納伏表較適合進行穩(wěn)定的低噪聲電壓測量,以及適合可靠且重復地檢定低阻材料和器件。 相比其他低電壓測量解決方案,其測量速度更快,噪聲性能顯著提高。 它提供簡化的...
查看詳情