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致茂Chroma 58620 激光半導體特性測試機

主要特色：

• 全自動化檢測邊射型激光半導體芯片
• 高精密及高容量載具設(shè)計
• 自動光纖耦合測試對位設(shè)計(Auto-alignment)
• AOI輔助定位，加速測試時間
• 共用載具設(shè)計可搭配燒機測試
• 高精密TEC溫度控制，穩(wěn)定度達0.01℃
• 搭配Chroma PXI-Base SMU/Power meter
• 軟體分析激光特性: 
  Ith，Rs，Vf，Slope Efficiency，λp等

激光二極管為高科技產(chǎn)品，價格不斐，多數(shù)使用于光通訊/ 醫(yī)療/ 國防等領(lǐng)域，并與人類社會息息相關(guān)。傳統(tǒng)的激光二極管因價格高昂，可靠性要求程度*，需要大量的人工與時間來進行光路調(diào)整(Alignment) 測試與封裝后的檢測。

致茂58620 為一全新概念機種，專為激光二極管(Laser Diode) 所打造設(shè)計，搭配自動化特性檢測All-In-One 設(shè)計概念，可供不同的測試項目同時進行檢測；搭配高容量的載具設(shè)計，可供多顆激光芯片(Chip level) 進行大量測試；另外藉由光學定位輔助(AOI)，可提升自動化檢測的速度與可靠性；高穩(wěn)定性的溫控平臺設(shè)計，可讓研發(fā)人員精確地了解激光二極管特性與溫度的關(guān)系。

共享載具

Chroma 58620 藉由多年在半導體IC 測試的經(jīng)驗與技術(shù)，發(fā)展共享載具與更換治具等概念并應(yīng)用于激光二極管產(chǎn)業(yè)。傳統(tǒng)在激光二極管前段測試過程中，需經(jīng)過多次的老化測試(Burn-In) 與特性檢測制程(Characterization)，在更換載具的過程中常會損壞待測物減低良率，共享載具的好處可讓研發(fā)或操作員只需要在D一次將激光二極管放置于載具中，即可在不接觸待測物之下完成所有必要的檢測，此設(shè)計亦可搭配Chroma 58601 老化測試機。然而，激光二極管的形式(Form Factor) 于各家設(shè)計皆有所不同，而58620 更換治具(Change Kit) 的概念可符合世界上大多激光二極管的封裝形式進行修改后即馬上可進行量測，目前可使用的形式為 Chip on carrier， Chip on sub-mount，Laser-bar 等。

自動對焦系統(tǒng)與光學輔助定位

激光二極管有一大部分的應(yīng)用于光通訊與電信工業(yè)的范疇內(nèi)，如光收發(fā)器(Transceiver) 等產(chǎn)品在組裝前若能了解每顆激光二極管的特性或與直接測試光纖的耦合后的特性，能減低產(chǎn)品的失敗率。Chroma 58620 測試系統(tǒng)中含有自動對焦系統(tǒng)(Auto alignment)，可搭配不同種類的光纖與Focuser 進行激光光大功率點耦合并測試，當激光光達一定程度的耦合效率時，系統(tǒng)搭配光譜分析儀(OSA) 進行分析了解激光二極管共振膜態(tài)，主次模比(Side Mode Suppression Ration) 以及波長分析(Peek wavelength) 等；此外，利用光學輔助定位的原理(AOI) 使得Focuser 快速達到激光發(fā)光區(qū)(Emission Region) 并進行搜尋大發(fā)射功率點可加速測試，大幅減低光纖耦合調(diào)校時間與測試人力。

▲自動對焦系統(tǒng)與光學輔助定位

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致茂Chroma 58620 激光半導體特性測試機